能在85%濕度和85°C的溫(wen)度下測試(shi)芯(xin)片(pian)或(huo)集成電(dian)路產品(pin)的功能或(huo)老化試(shi)驗(yan)

能在(zai)85%濕度和(he)85°C的溫度下測試芯片或集成電路產(chan)品的功(gong)能或老化試驗

適用于小于等(deng)于0.3mm Picth的連接器DUT

能滿足(zu)5*20=100DUT 并行測試的(de)要求

PCB連接器插件傳輸，使測試通信更加穩定